在光伏产业高速发展的今天，硅材料成本占太阳能电池总成本的40%以上。为降低生产成本，行业普遍采用低纯度冶金级硅（umg-Si），但其高磷杂质含量易导致硅锭顶部形成n型导电区，造成材料浪费。传统电阻率检测技术受限于分辨率低（通常>10mm）、无法全区域扫描等缺陷，导致切割后硅片良率损失高达5%-8%。FreibergInstruments公司凭借自主研发的微波检测光电导技术（MDP），成功

在光伏产业追求更高效率与更低成本的今天，材料质量的前端控制成为决定太阳能电池性能的关键。德国弗莱贝格仪器公司（FreibergInstrumentsGmbH）凭借其全球领先的微波探测光电导技术（MicrowaveDetectedPhotoconductivity,MDP），为硅材料从铸锭到晶圆的全程质量控制提供了革命性解决方案。一、MDP技术：定义半导体表征标准传统寿命测量技术如mPCD（瞬态

在光伏生产链中，硅锭材料质量评估对晶体生长者优化结晶过程、电池、芯片制造商筛选材料以降本增效极为重要。传统依赖最终效率的反馈方式存在诸多不足，MDP技术则为早期质量评估提供了新途径。FreibergInstruments相关技术或设备助力实现用MDP技术在硅砖四个侧面以1mm分辨率测量空间寿命和电阻率图像。这种测量具有非接触、可在线操作且无需校准的优势。MDP技术能够对晶锭的空间分辨载流子寿命

双面单晶硅电池在正反两面都可以接受光照，因此在太阳能的利用效率上较传统的单面电池具有诸多方面的优点，双面晶硅电池技术脱颖而出，占据太阳能电池的主导地位。双面PERC电池背面PID会导致严重的功率损失。与单面PERC太阳能电池相比，可以发生可逆的去极化相关电位诱导衰退（PID-p）和不可逆的腐蚀电位诱导衰退（PID-c）。研究表明，一个可靠的评估太阳能电池功率损失的方法需要一种改进的PID测试方