双面单晶硅电池在正反两面都可以接受光照，因此在太阳能的利用效率上较传统的单面电池具有诸多方面的优点，双面晶硅电池技术脱颖而出，占据太阳能电池的主导地位。

双面 PERC 电池背面PID会导致严重的功率损失。与单面 PERC 太阳能电池相比，可以发生可逆的去极化相关电位诱导衰退（PID-p）和不可逆的腐蚀电位诱导衰退（PID-c）。研究表明，一个可靠的评估太阳能电池功率损失的方法需要一种改进的 PID 测试方法，需要在高压测试上附加光照。此外，还需要在测试方案中加入恢复步骤来将可逆 PID-p 与不可逆 PID-c 造成损伤的区分开来。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的贡献敏感地依赖于所研究的太阳能电池。因此，在双面 PERC 电池的 PID 测试方案中需包括 PID 高压期间的附加光照和恢复步骤。

相对于每个单独模块的初始状态，背面Isc 值的变化。所有 I–V 曲线，即PID和恢复前后，

在 1000wm-2 强度 （1 个 太 阳 ） 和100wm-2（0.1 个太阳）下测量。

比较 1 个太阳和0.1 个太阳的 I–V 测量，可以观察到，这两种方法之间有很强的数量相关性。观察到的参数变化与用于 I–V 测量的光照强度无关。

采用 0.1 太阳光源的测试装置可同样适用于 PID 阶段和表征阶段。A （优化电池）模块和 S（标准电池） 模块之间的另一个显著区别是恢复行为。对于 A 模块，Isc 值在恢复步骤中几乎完全恢复（上图右中的黑色和红色条）。这意味着，所观察到的 A 模块背面的衰退大部分是可逆的，因此与PID-p 有关。与此相反，S 模块在恢复阶段仅显示很小的 Isc 参数的变化。因此，在这种情况下，PID 几乎是完全不可逆的，与 PID-c 有关。

综上所述，电位诱导衰退（PID）对双面太阳能电池的背面有很大的影响。有两种不同的PID 机制， 可逆极化相关 PID-p 和不可逆腐蚀相关 PID-c。

一个PID测试与4小时总测试时间适合于评估微型模块的背面PID灵敏度以及区分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。为此，PID 测试流程需要满足两个条件：第一，测试过程同时需要实施光照，以防止 PID 结果的过高或过低估计。第二，需要一个恢复步骤来区分 PID-c 和 PID-p。虽然 PID-p 敏感单元可以通过在光伏电站施加反向电压来恢复，对 PID-c 敏感的太阳能电池将遭受永远不可逆的功率损失。因此，我们需要一种能够测试双面电池PID的相应设备，结合所需的高压测试条件和原位 PID 的跟踪技术，满足以上各种实验条件的需求。

弗莱贝格仪器与德国Fraunhofer CSP公司合作开发了一种可作为商业应用的台式太阳能电池和微型模块的电势诱导衰退控制的测量解决方案。

1. • 根据IEC 62804-TS标准方法

2. • 易于使用的台式设备

3. • 够测量c-Si太阳能电池和微型模块

4. • 无需气候室

5. • 不需要电池层压

6. • 测量速度：4小时(一般)

7. • 可测量参数：分流电阻、功率损失、电导率、泄漏电流、湿度和温度

8. • 太阳能电池可以通过EL等进行研究

9. • 基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持

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PIDcon bofacial台式双面电池PID测试仪