德国Freiberg MDP非常适合以下两种方法，一是通过测量取决于注入量的少数载流子寿命来进行缺陷调查，二是用于在线测量的晶圆甚至晶锭的图形化。它在灵敏度、分辨率和速度方面超过了µPCD(微波检测光导衰减)和QSSPC(准稳态光导)。

利用矩形激光脉冲激发前后的微波吸收，测量了与扩散长度密切相关的光电导率。图1显示了德国Freiberg MDP和MD-PICTS测量的测量原理。

图1.能量测量的原理

l自由载流子的产生

l陷阱里装满了载体

l自由载流子的重组

l被捕获载流子的热再发射

l再发射载流子的时间移位重组

在一个频率稳定的微波发生器中产生约10 GHz的微波，并将其分解为参考和测量部分。有了衰减器，功率可以调整，范围通常从1到100mW。样品刚好位于空腔的外面，是测量系统的一部分。腔壁上的特殊虹膜允许微波场穿透样品。因此，样品的复介电常数影响谐振频率和谐振腔的损耗性。

用IQ检测器检测了过量载流子对微波的吸收。样本被放置在x-y表上，理论上允许每个尺寸的样本在x-y平面上移动。对于依赖于温度的MD-PICTS测量，样品必须是低温恒温器系统的一部分，因此目前样品量有限，但除此之外，它基本上是相同的测量系统。

图2.典型的信号

图3.MDP和MD-PICTS的设置

这种技术的高灵敏度允许应用强度为µW到mW和无限脉冲持续时间的弱激光脉冲。因此，可以在非稳态或稳态状态下进行测量，并连续改变脉冲长度，从100 ns到几ms。该系统的分辨率仅受样品扩散长度的限制。

除了速度和灵敏度方面的优势，德国Freiberg MDP的一个主要优势是能够同时测量光导率和少数载流子寿命。因此，可以从每次测量中获得更多的参数，如扩散长度、迁移率甚至捕获动力学。

                                          图4.mc-Si晶圆片的典型寿命扫描图                      图5.典型的mc-Si晶片的光导图